Sorting by

×
خانه علمی پژوهشیمقالات تزویجگر‌های انشعابی گذرا برای آزمون فوتونیک ویفر-مقیاس بر پایه مواد تغییر فاز دهنده نوری

تزویجگر‌های انشعابی گذرا برای آزمون فوتونیک ویفر-مقیاس بر پایه مواد تغییر فاز دهنده نوری

توسط منیره جوادی
0 نظرات

 

 

مرجع پلیمر در بازار ایران (پلیم پارت) : آزمایش ویفر-مقیاس برای پایش فرآیند، اصلاح پس از ساخت و درک دینامیک سیستم در مدارهای مجتمع فوتونیکی (PIC) ضروری است. تزویجگرهای انشعابی موج‌بر، معمولاً برای ارائه دسترسی آزمایشی به اجزای PIC استفاده می‌شود. اما این تزویجگرهای انشعابی متحمل پارازیت‌های دائمی می‌شوند، که نوعی توازن بین عملکرد PIC و الزامات آزمایش را تحمیل می‌نماید. در تحقیق حاضر، طراحی تزویجگر انشعابی بر اساس مواد تغییر فاز دهنده اپتیکی (O-PCM) را نشان می‌دهد. تزویجگرها در حالت «روشن» پس از تولید خود، آزمایش و شناسایی پهن‌باند PICها را در مقیاس ویفر امکان‌پذیر می‌سازند. پس از پایان آزمایش، تزویجگرهای انشعابی را می‌توان با حداقل اتلاف باقیمانده ( 0/01 دسی‌بل) از طریق فرآیند ساده بازپخت ویفر-مقیاس در دمای پایین (280 درجه سانتیگراد) «خاموش» نمود. علاوه بر این، تزویجگرهای گذرا را در هر دو پلتفرم فوتونیک Si و SiN با موفقیت نشان داده شد. مفهوم تزویجگر گذرای پلتفرم-آگنوستیک به شکلی منحصر به فرد فضای اشغالی فشرده، کارکرد پهن‌باند، اتلاف باقیمانده فوق العاده کم  و ذخیره گرمایی کم متناسب با عملیات پس از ساخت، ترکیب می‌نماید. در نتیجه راه حلی آسان برای آزمایش فوتونیک ویفر-مقیاس بدون افت عملکرد نهایی PIC ارائه می‌دهد.

 

دانلود متن کامل : تزویجگر‌های انشعابی گذرا برای آزمون فوتونیک ویفر-مقیاس بر پایه مواد تغییر فاز دهنده نوری

 

 

DOI: 10.1021/acsphotonics.1c00374

ترجمه و ویرایش : مریم مهاجر

 

مطالب مشابه

پیام بگذارید

Time limit is exhausted. Please reload the CAPTCHA.

نگاهی کوتاه

مرجع اطلاعات تخصصی پلیمر حاوی محتوی فنی،اقتصادی،علمی و تولیدی در بازار ایران به منظور گسترش تعاملات تجاری B2B و B2C فعالین و متقاضیان در عرصه داخلی و بین المللی

خبرنامه

آخرین اخبار

تمامی حقوق مطالب برای “پلیم پارت “محفوظ است و هرگونه کپی برداری بدون ذکر منبع ممنوع میباشد.

ضبط پیام صوتی

زمان هر پیام صوتی 5 دقیقه است