مرجع پلیمر در بازار ایران (پلیم پارت) : آزمایش ویفر-مقیاس برای پایش فرآیند، اصلاح پس از ساخت و درک دینامیک سیستم در مدارهای مجتمع فوتونیکی (PIC) ضروری است. تزویجگرهای انشعابی موج‌بر، معمولاً برای ارائه دسترسی آزمایشی به اجزای PIC استفاده می‌شود. اما این تزویجگرهای انشعابی متحمل پارازیت‌های دائمی می‌شوند، که نوعی توازن بین عملکرد PIC و الزامات آزمایش را تحمیل می‌نماید. در تحقیق حاضر، طراحی تزویجگر انشعابی بر اساس مواد تغییر فاز دهنده اپتیکی (O-PCM) را نشان می‌دهد. تزویجگرها در حالت «روشن» پس از تولید خود، آزمایش و شناسایی پهن‌باند PICها را در مقیاس ویفر امکان‌پذیر می‌سازند. پس از پایان آزمایش، تزویجگرهای انشعابی را می‌توان با حداقل اتلاف باقیمانده ( 0/01 دسی‌بل) از طریق فرآیند ساده بازپخت ویفر-مقیاس در دمای پایین (280 درجه سانتیگراد) «خاموش» نمود. علاوه بر این، تزویجگرهای گذرا را در هر دو پلتفرم فوتونیک Si و SiN با موفقیت نشان داده شد. مفهوم تزویجگر گذرای پلتفرم-آگنوستیک به شکلی منحصر به فرد فضای اشغالی فشرده، کارکرد پهن‌باند، اتلاف باقیمانده فوق العاده کم و ذخیره گرمایی کم متناسب با عملیات پس از ساخت، ترکیب می‌نماید. در نتیجه راه حلی آسان برای آزمایش فوتونیک ویفر-مقیاس بدون افت عملکرد نهایی PIC ارائه می‌دهد.
دانلود متن کامل : تزویجگرهای انشعابی گذرا برای آزمون فوتونیک ویفر-مقیاس بر پایه مواد تغییر فاز دهنده نوری
DOI: 10.1021/acsphotonics.1c00374
ترجمه و ویرایش : مریم مهاجر